產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
半導體封閉材料I-V/C-V測試系統(tǒng)，華測雙面點針探針臺可用于晶圓和PCB板測試，用于需要正面和背面同時扎針，以實現(xiàn)各種光/電性能測試需求的測試設(shè)備。
詳情介紹：
華測 雙面探針臺
型號：Huace-8D
一、產(chǎn)品介紹
華測雙面點針探針臺可用于晶圓和PCB板測試，用于需要正面和背面同時扎針，以實現(xiàn)各種光/電性能測試需求的測試設(shè)備。該定制探針臺具有優(yōu)良的機械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)，符合人體工程學，以及多項升級功能。可廣泛應(yīng)用于集成電路、Wafer ， LED、LCD、太陽能電池等行業(yè)的制造和研究領(lǐng)域。
二、優(yōu)勢特點
華測系列探針臺可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動 ； 可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復應(yīng)用
1、滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等.
2、zui大可用于8英寸以內(nèi)樣品測試
3、同軸絲杠傳動結(jié)構(gòu)，線性移動
4、兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動
5、可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復應(yīng)用
