應(yīng)用領(lǐng)域
01.通信與信息技術(shù)
在通信設(shè)備和信息技術(shù)產(chǎn)品中，電容器也扮演著重要角色。多通道電容器溫度特性評估系統(tǒng)可以提供高效的測試方案，確保產(chǎn)品在各種溫度環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。
02.電子材料
印刷電路板、通量、絕緣材料（樹脂、薄膜等）、介電材料（鈦、陶瓷、鉭、鋁電解材料等）。
01.64個(gè)通道的自動(dòng)測量
可以測量不同溫度環(huán)境下的電容量(C)、損耗因子(D) 和阻抗 (Z)的多通道?？梢赃x擇8個(gè)通道的倍數(shù),64個(gè)通道。
02.圖形功能允許實(shí)時(shí)查看
測量結(jié)果收集的數(shù)據(jù),包括不同溫度、頻率和時(shí)間下的電特性值和變化率,可以通過各種圖形函數(shù)進(jìn)行實(shí)時(shí)審查。
03.可從不同測試模式選擇
溫度特性評價(jià)試驗(yàn)、恒定運(yùn)行試驗(yàn)和頻率特性試驗(yàn)。測試可與溫度特性評價(jià)測試或恒定運(yùn)行測試相合。》溫度特性評估測試
在此測試模式下,自動(dòng)記錄特性數(shù)據(jù),并與溫度變化同步,頻率步數(shù)201步(范圍可定制)。
》持續(xù)運(yùn)行測試
測試模式測量以下參數(shù)的變化特定中隨時(shí)間推移的特征自動(dòng)記錄數(shù)據(jù)。
試驗(yàn)?zāi)Ｊ皆谔囟囟拳h(huán)境下改變頻率的同時(shí)，自動(dòng)記錄不同頻率下的特性數(shù)據(jù)。
除了 SMD 組件的專用夾具外,還提供了根據(jù)離散設(shè)備形狀定制的夾具。
環(huán)境試驗(yàn)箱
01.恒溫試驗(yàn)箱
型號：HC-80/HC-512
溫度范圍：RT ~ +100℃/RT ~ +200℃
內(nèi)部容積（L）：80/512
作為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)箱的一條線，恒溫試驗(yàn)箱除了可靠性、性能、可操作性和保障性外，還追求理想的、生態(tài)友好的環(huán)境試驗(yàn)箱的新環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)。
02.迷你高低溫環(huán)境箱
型號：HC-35/HC-70
溫度范圍：-40 ~ +100℃/-70 ~ +200℃
內(nèi)部容積（L）：35/70
支持覆蓋超低溫范圍的較寬溫度范圍（-40℃/-70℃ ）至高溫范圍（+100℃ /+150℃）。具備超溫保護(hù)切斷加熱斷路器功能。
技術(shù)指標(biāo)
