華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀 研發(fā)成功上市 三年質(zhì)保

   高溫四探針測(cè)試儀采用直排四探針?lè)ㄔO(shè)計(jì)原理測(cè)量。主要用于評(píng)估半導(dǎo)體薄膜和薄片的導(dǎo)電性能，參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測(cè)試線(xiàn)纜，提高測(cè)試參數(shù)的精度，同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

      搭配Labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的Huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置，符合功能材料測(cè)試多樣化的需求。電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況以保證測(cè)試過(guò)程的**；資料保存機(jī)制，當(dāng)遇到電腦異常瞬時(shí)斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗(yàn)數(shù)據(jù)，設(shè)備重新啟動(dòng)后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。

      源測(cè)量?jī)x器的精密耦合特點(diǎn)相對(duì)分立儀器具有許多優(yōu)點(diǎn)。例如，它具有更短的測(cè)試時(shí)間，通過(guò)減少GPIB的流量并簡(jiǎn)化了遠(yuǎn)程編程接口。它還保護(hù)被測(cè)設(shè)備在偶爾過(guò)載、熱失控等情況下不被損壞。電流源和電壓源都可設(shè)置回讀使器件測(cè)量完整性*大化。如果回讀達(dá)到可編程容限的極限，那么該源就被鉗位在此極限，從而提供錯(cuò)誤保護(hù)。

儀器優(yōu)勢(shì)：

1、它可以勻速、階梯（升\降溫）、循環(huán)沖擊，真空、氣氛等多種的加熱方式。

2、采用***移相觸發(fā)技術(shù)，完全可實(shí)現(xiàn)控制精度波動(dòng)±0.25°c 以?xún)?nèi)，溫控度更高。

3、加熱速度更快、更快，同時(shí)它可以提供了材料的更多的測(cè)試環(huán)境。