耐電痕化指數(shù)儀

一、耐電痕化指數(shù)儀簡(jiǎn)介：

          耐漏電起痕試驗(yàn)（電痕化指數(shù)試驗(yàn)）是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸 ( 2mm × 5mm ) 的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí) (30s) 定高度 ( 35mm ) 滴下規(guī)定液滴體積的導(dǎo)電液體 (0.1%NH 4 CL) ，用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電性能，測(cè)定其相比電痕化指數(shù) (CT1) 和耐電痕化指數(shù)(PT1) 。

       耐漏電起痕試驗(yàn)儀（電痕化指數(shù)試驗(yàn)儀）儀主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實(shí)際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導(dǎo)電物質(zhì)是否引起絕緣材料現(xiàn)在爬電、擊穿短路和起火危險(xiǎn)。電氣產(chǎn)品在使用過(guò)程中，由于環(huán)境的污染導(dǎo)致絕緣材料表面有污物、潮氣而產(chǎn)生的漏電，因此誘發(fā)的腐蝕而損壞絕緣性能。

二、耐電痕化指數(shù)儀

   HC5000系列測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái) hacepro ,采用labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)，符號(hào)電氣絕緣材料的各項(xiàng)測(cè)試需求，具備高壓的穩(wěn)定性與an全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復(fù)。兼容，XP、win7、win10系統(tǒng)。

█ 多語(yǔ)介面：支持中文/英文 兩種語(yǔ)言界面；

█ 即時(shí)監(jiān)控：系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽，無(wú)須等待；

█ 圖例管理：通過(guò)軟件中的狀態(tài)圖示，一目了然，立即對(duì)狀態(tài)說(shuō)明，了解測(cè)試狀態(tài)；

█ 使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限，方便管理；

█ 故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。

耐電痕化指數(shù)儀設(shè)備參數(shù):

試驗(yàn)電壓：100-600V（48~60HZ）可調(diào)

控制方式：西門(mén)子PLC+觸摸屏控制系統(tǒng)。

滴液高度：可調(diào)

防護(hù)時(shí)間：0.1ns

通滴液次數(shù)：0~9999次可調(diào)

電極距離：4.0mm ± 0.01mm ，夾角 60°±5

電極壓力：1.0±0.05N(可調(diào))

通訊接口：LAN網(wǎng)口 、藍(lán)牙

設(shè)備尺寸：560x480x380mm

電壓精度：±1%

電流精度：±1%

滴液大?。?/span>44-55滴/1cm3 可調(diào)

滴液時(shí)間：30s±1s(可調(diào))，

操控方式：10寸觸摸屏

電極材料：電極頭（鍍金、電極桿純銀）

漏電判斷：電流大于0.5A并維持2秒鐘切斷

操控方式：10寸觸摸屏

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

采用西門(mén)子PLC控制系統(tǒng)更加穩(wěn)定。

試驗(yàn)步驟

   1.概述

    試驗(yàn)應(yīng)在空氣不流動(dòng)，溫度為23±5℃的環(huán)境條件下進(jìn)行。

   每次試驗(yàn)時(shí)應(yīng)將電極擦凈。電極邊緣如果已被蝕損，應(yīng)重新研磨。試樣應(yīng)水平地放置在絕緣（或金屬）支撐板上。電極按圖2所示放置，并以規(guī)定的壓力與試樣表面良好地接觸，用量規(guī)檢查兩電極間的距離為4.0±0.1mm。接通電源，調(diào)節(jié)一個(gè)電壓值，使它是25V的倍數(shù)。調(diào)節(jié)可調(diào)電阻，使兩電極間短路時(shí)，回路電流為1.0± 0.1A,當(dāng)試驗(yàn)電壓不同時(shí)，可調(diào)電阻值要作相應(yīng)的改變。然后使兩電極 間開(kāi)路，對(duì)試驗(yàn)回路供電同時(shí)使電解液液滴以30±5秒的時(shí)間間隔滴到兩電極中間的試樣上，直到試樣發(fā)生破壞或滴下50滴為止。

    當(dāng)在試樣表面兩電極間的導(dǎo)電通路中流過(guò)0.5A或更大的電流，過(guò)電流繼電器延時(shí)2秒鐘動(dòng)作時(shí)； 或過(guò)電流繼電器雖未動(dòng)作，但試樣燃燒了，均認(rèn)為已發(fā)生破壞。

注：①如果在同一試樣上做多次試驗(yàn)，則應(yīng)注意試驗(yàn)點(diǎn)之間要有足夠的間隔，使試驗(yàn)點(diǎn)上飛濺出的污物不污染其他的被試表面。

②如果試樣的撐板是金屬的，則可將它接到試驗(yàn)線路里，可以指示試樣蝕損穿孔的情況。

③因試驗(yàn)?zāi)墚a(chǎn)生有害或有毒的氣體，因此，應(yīng)采取an全措拖以排除或密閉這些氣體。

2.CTI值的測(cè)定

   調(diào)節(jié)電壓到一個(gè)預(yù)先選擇好的值并進(jìn)行試驗(yàn)，直到試樣經(jīng)受住50滴溶液或試樣發(fā)生破壞為止。在試樣的其他試驗(yàn)點(diǎn)上施加更低或更高的電壓再做試驗(yàn)，直到得出在5個(gè)不同的試驗(yàn)點(diǎn)上對(duì)50滴溶液不發(fā)生破壞的至高電壓值。如果將這個(gè)至高電壓值降低25V,在另外的5個(gè)試驗(yàn)點(diǎn)上再做試驗(yàn)時(shí)，直到100滴溶液試樣也沒(méi)有發(fā)生破壞的話，則這個(gè)至高電壓值就是CTI (例如CTI425)。有的材料可能滿(mǎn)足不了后一個(gè)規(guī)定，對(duì)于這些材料要確定試樣在5個(gè)試驗(yàn)點(diǎn)上都能經(jīng)受住100滴溶液的至高電壓值，并將這個(gè)電壓值附在CTI中表示出來(lái)，例如CTI425 (375）。

   注：①如果不知道材料的性能，則起始電壓可選取試驗(yàn)范圍的中間值，例如300V。如果試樣經(jīng)受住50滴溶液，就增加電壓再做試驗(yàn)，否則就降低電壓再做試驗(yàn)。這個(gè)電壓的增減量應(yīng)是25 V或25 V的倍數(shù)。繼續(xù)進(jìn)行試驗(yàn)，直到獲得5個(gè)試驗(yàn)點(diǎn)都能經(jīng)受住50滴溶液的至高電壓值。

②注意：試驗(yàn)時(shí)可能會(huì)遇到電解液或污染物積聚在試樣表面上的凹坑或缺陷處導(dǎo)致過(guò)電流繼電器的動(dòng)作,而不是漏電起痕（固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和電解液的聯(lián)合作用下逐漸形成導(dǎo)電通路的過(guò)程。）導(dǎo)電通路所引起。在這種情況下，必須重做試驗(yàn)，如果得不到定義規(guī)定的結(jié)果，應(yīng)在試驗(yàn)報(bào)吿中說(shuō)明。

   3.耐漏電起痕試驗(yàn)

   在材料或電工設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)中，如果僅需要作耐漏電起痕試驗(yàn)，則按概述1中所述在一個(gè)規(guī)定的試驗(yàn)電壓下進(jìn)行試驗(yàn)，5個(gè)試驗(yàn)點(diǎn)應(yīng)都能經(jīng)受住50滴溶液而不發(fā)生破壞。以PTI表示耐漏電起痕指數(shù)，例如 PT1375。

   注：試驗(yàn)中應(yīng)優(yōu)先采用以下電壓值：175, 250, 300, 375或500V。

   4.蝕損深度的測(cè)定

   將沒(méi)有形成漏電痕跡的試樣清理掉表面的碎屑或附著在上面的松散分解物，然后將它放在深度規(guī)的平板上，用一個(gè)端部為半球形、直徑為lmm的探針來(lái)測(cè)量每個(gè)試驗(yàn)點(diǎn)的至大蝕損深度，jing確到0.1mm。

   應(yīng)在試驗(yàn)報(bào)告中注明5次測(cè)量的至大值。

   1）按“CTI值的測(cè)定”進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，在相應(yīng)于CTI值的電壓下做過(guò)試驗(yàn)的5個(gè)試驗(yàn)點(diǎn)上測(cè)量蝕損深度。

   2）按“耐漏電起痕試驗(yàn)”進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)在相應(yīng)于PTI值的電壓下做過(guò)試驗(yàn)的5個(gè)試驗(yàn)點(diǎn)上測(cè)量蝕損深度。

                                     

圖1簡(jiǎn)化試驗(yàn)裝置