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產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱：低壓漏電起痕試驗(yàn)設(shè)備
產(chǎn)品型號(hào)：HCLD-2
產(chǎn)品廠商：華測(cè)
產(chǎn)品價(jià)格：0
折扣價(jià)格：0
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簡(jiǎn)單介紹：

低壓漏電起痕試驗(yàn)設(shè)備采用計(jì)算機(jī)控制，通過(guò)人機(jī)對(duì)話完成固體絕緣材料在低壓電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力。設(shè)備具備數(shù)據(jù)數(shù)顯、存儲(chǔ)功能、過(guò)流保護(hù)、過(guò)壓保護(hù)和門限保護(hù)功能。試驗(yàn)設(shè)備被廣泛應(yīng)用于電工電子、電器、半導(dǎo)體封裝和信息技術(shù)設(shè)備等領(lǐng)域，并用于電機(jī)等行業(yè)的電工用塑料、樹脂膠、絕緣漆，以及層壓板等絕緣材料的耐電弧性能測(cè)試。

詳情介紹：

低壓漏電起痕試驗(yàn)設(shè)備

產(chǎn)品介紹

華測(cè)低壓漏電起痕試驗(yàn)設(shè)備采用計(jì)算機(jī)控制，通過(guò)人機(jī)對(duì)話完成固體絕緣材料在低壓電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力。設(shè)備具備數(shù)據(jù)數(shù)顯、存儲(chǔ)功能、過(guò)流保護(hù)、過(guò)壓保護(hù)和門限保護(hù)功能。

廣泛應(yīng)用于電工電子、電器、半導(dǎo)體封裝和信息技術(shù)設(shè)備等領(lǐng)域，并用于電機(jī)等行業(yè)的電工用塑料、樹脂膠、絕緣漆，以及層壓板等絕緣材料的耐電弧性能測(cè)試。

產(chǎn)品概述

耐漏電起痕試驗(yàn)（電痕化指數(shù)試驗(yàn)）是根據(jù) UL746A 、IEC60112 、IEC60335、IEC884-1、 GB2099.1、GB/T4207、GB4706.1 ASTMD 3638-92 等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬仿真試驗(yàn)項(xiàng)目。耐漏電起痕試驗(yàn)（電痕化指數(shù)試驗(yàn)）是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸 ( 2mm × 5mm ) 的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí) (30s) 定高度 ( 35mm ) 滴下規(guī)定液滴體積的導(dǎo)電液體 (0.1%NH4CL) ，用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電性能，測(cè)定其相比電痕化指數(shù) (CTI) 和耐電痕化指數(shù)(PTI) 。電痕化是指固體絕緣材料在電應(yīng)力和電解雜質(zhì)的聯(lián)合作用下，在表面（或內(nèi)部）產(chǎn)生導(dǎo)電通道。