產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。設(shè)備是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備。它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過長時(shí)間的測試（1~1000小時(shí)可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評(píng)估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響。
詳情介紹：
應(yīng)用領(lǐng)域
封裝材料：助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板、高密度封裝的材料
電子材料：印BGA、CSP等精細(xì)節(jié)距IC封裝件
有機(jī)半導(dǎo)體：PPV、NDI、OFETS、OSCS、OLEDS等
電子元器件：電容、連接器等其他電子元器件及材料
絕緣材料：各種絕緣材料的吸濕性特性評(píng)估
設(shè)備參數(shù)
01.測量電壓：100~1500V(可定制)
02.測試通道：128通道(可定制至高960通道)
03.測試時(shí)長：可連續(xù)運(yùn)行1500小時(shí)
04.測試溫度：85°C(可定制)
05.測試濕度：85%(可定制)
06.測量范圍：1x10^5~1x10^15Ω
07.極化電壓：100~1500V(可定制)
08.掃描周期：2分鐘(128通道)
環(huán)境試驗(yàn)箱
01.恒溫試驗(yàn)箱
型號(hào)：HC-80/HC-512
溫度范圍：RT ~ +100℃/RT ~ +200℃
內(nèi)部容積（L）：80/512
作為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)箱的一條線，恒溫試驗(yàn)箱除了可靠性、性能、可操作性和保障性外，還追求理想的、生態(tài)友好的環(huán)境試驗(yàn)箱的新環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)。
02.迷你高低溫環(huán)境箱
型號(hào)：HC-35/HC-70
溫度范圍：-40 ~ +100℃/-70 ~ +200℃
內(nèi)部容積（L）：35/70
支持覆蓋超低溫范圍的較寬溫度范圍（-40℃/-70℃ ）至高溫范圍（+100℃ /+150℃）。具備超溫保護(hù)切斷加熱斷路器功能。
軟件主界面
01.監(jiān)視器屏幕提供了所有的測試進(jìn)度、電阻和變化率的實(shí)時(shí)信息。
02.可配置測量通道的電氣參數(shù)和時(shí)間設(shè)置。
